ユニークな照明光学系と独自の画像処理技術を用いた欠陥抽出アルゴリズムの組み合わせで、パターン検査、ビア検査での高い検出力を実現！
製品ラインナップ
プリント基板検査装置
- 高精細基板検査装置（AOI） Phoenixシリーズ
高精細基板検査装置（AOI）Phoenixシリーズは、独自のイルミネーション技術『Microlight』により、見逃しやすい不良も検出可能に。また、独自の技術により開発されたソフトウェア『SPARK』により、高精度の検査プログラムが簡易的に作成可能になりました。
【特徴】
- エッチング後のパターン検査
- 現像後のパターン検査
- 最終外観検査
- ＢＶＨ穴検査
- スルーホールメッキ検査
- タッチパネル周囲の配線検査
- ガラスマスク検査
CIMSの概要
CIMS中国
CIMS社は、プリント基板検査装置（AOI）の専門メーカです。
プリント基板検査における世界トップレベルの高い検査技術を有しており、あらゆる基板不良に適応した検査パフォーマンスを提供します。
CIMS製品に関するお問い合わせ
受付時間 平日 9:00～17:30（土・日・祝日・当社指定休業日除く）