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半導体製造関連機器
半導体プロセス装置
半導体評価装置
分析装置
フォトマスク関連機器
ウエハ自動搬送関連
温度環境試験装置
校正用スタンダード
半導体プロセス装置
プラズマサーモ(アメリカ)
Webサイト
装置種類
・VERSALINE (R&D to Product)
RIE(Reactive Ion Etching):反応性イオンエッチング装置
PECVD(Plasma Enhanced CVD):プラズマCVD装置
DRIE(Deep RIE):深堀りRIE装置
ICP(Inductively Coupled Plasma)誘導結合プラズマ装置
・Mask Etcher V(Product)
ICPドライエッチング装置
・LAPECVD (Product)
・790, 790+ (R&D):PECVD, RIE
アプリケーション
・Mask Etch
・LED/Photonics
・Compound Semiconductor
・MEMS
・Data Storage
・Solar
・Nanotechnology
お問い合わせ TEL:03-3225-8992 /
メール
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DSGI,Inc.,(アメリカ)
Webサイト
MWアニール装置
用途:
低温アニール、低温オゾン酸化膜生成、シリサイド化、Cuアニール、ポリイミドキュア、High-Kアニール、Low-K絶縁膜アニール
特徴:
1.マクロウェーブ内部加熱により従来のRTPよりも大幅に低いサーマルバジェットを実現
2.ディフュージョンレスマクロウェーブ技術(特許)
3.M3マイクロウェーブ技術により均一なウェハ加熱を実現
お問い合わせ TEL:03-3225-3424 /
メール
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アクアサイエンス株式会社(日本)
Webサイト
1.超高濃度オゾン水併用HDIレジスト剥離装置:
Aurora
特徴:
1.アッシャーレスでのLDI,MDIレジスト剥離を実現
2.下地膜のロスなくレジスト剥離
3.SPMレスにより薬液コストおよび環境負荷低減
Aurora資料はこちら
2.蒸気水レジスト・ポリマー剥離装置:PoseidonX
特徴:
1.純水だけでもポリマーが落ちる→薬剤コストの大幅削減
2.ppmオーダーの薬液添加で広がるプロセスウインドウ
3.微粒子、異物の除去にも有効
PoseidonX資料はこちら
お問い合わせ TEL:03-3225-3424 /
メール
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カンケンテクノ株式会社(日本)
UVアニール装置
用途: Low K材料の機械的強度向上、
ストレッサー用装置
特長
・200/300mm基板対応
・UV波長使用
・基板温度:最大450℃
・ロードロック枚葉式装置
・60~120秒程度の短時間処理
・省スペース設計(W750mm×D3,000mm)
お問い合わせ TEL:03-3225-3424 /
メール
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ジェー・ピー・サーセルアソシエイツ(アメリカ)
Webサイト
レーザー・スクライビング装置
エキシマレーザー装置
お問い合わせ TEL:03-3225-8073 /
メール
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株式会社エルフォテック (日本)
Webサイト
高性能微細加工用サンドブラスト装置
お問い合わせ TEL:03-3225-8082 /
メール
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エリコン バルザ-ス株式会社(リヒテンシュタイン)
Webサイト
スパッタリング蒸着装置(バッチ式、枚葉式)
アプリケーション
・記録メディア用PVD(DVD、ブルーレイ等)
・半導体用PVD(磁気ヘッド、太陽電池等)
・Advanced Nanotechnology(薄膜太陽電池、タッチパネル、メムス等)
・R&D Incubator for Oerlikon(VHF Solar、SuperCap、HIS for hard coatings Balzers)
お問い合わせ TEL:03-3225-8992 /
メール
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半導体評価装置
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社(日本)
集束イオンビーム装置/FIB-SEM-Ar複合装置
走査型プローブ顕微鏡
お問い合わせ TEL:03-3225-8052 /
メール
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株式会社アイビット(日本)
X線観察装置
インラインX線検査装置
お問い合わせ TEL:03-3225-3424 /
メール
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センテック (ドイツ)
Webサイト
膜厚測定装置
お問い合わせ TEL:03-3225-3424 /
メール
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セラドン システムズ(アメリカ)
Webサイト
高温耐熱一括プローブ
お問い合わせ TEL:03-3225-3424 /
メール
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住友金属工業株式会社(日本)
微小容量計
お問い合わせ TEL:03-3225-3424 /
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PVAテプラ(ドイツ)
Webサイト
イオン注入量測定装置 TWIN
ウェハストレス測定装置 SIRD
お問い合わせ TEL:03-3225-3424 /
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分析装置
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
集束イオンビーム装置/FIB-SEM-Ar複合装置
走査型プローブ顕微鏡
お問い合わせ TEL:03-3225-8052 /
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フォトマスク関連機器
ファインセミテック(韓国)
・半導体用ぺリクル
【用途】
*G線用(436nm)
*I線用(365nm)
*KrF DUV用(248nm)
*ArF DUV用(193nm)
【特徴】
1.アウトガスが少ない
2.リペリクル性良好(残渣がない)
3.高透過率
4.高寿命
お問い合わせ TEL:03-3225-8992 /
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ウエハ自動搬送関連
クロッシングオートメーション(アメリカ)
Webサイト
大気系製品
EFEM(自動ウエハーハンドリングシステム)
ソータ
ロードポート
ロット追跡用RFID
スマートタグ
真空系製品
モジュールチャンバー
真空ロボット
お問い合わせ TEL:03-3225-8992 /
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温度環境試験装置
インテストサーマルソリューションズ(アメリカ)
Webサイト
テンプトロニック(アメリカ)
超高速温度環境試験機(サーモストリーム)
半導体ウエハ温調チャック(サーモチャック)
カタログダウンロード(3.5MB)
シグマシステム(アメリカ)
カスタム恒温槽
温調プラットホーム
お問い合わせ TEL:03-3225-8992 /
メール
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校正用スタンダード
プロセス スペシャルティーズ(アメリカ)
Webサイト
二酸化シリコン薄膜標準ウエハ(ウエハサイズ150、200、300mm)
窒化シリコン薄膜標準ウエハ(ウエハサイズ150、200、300mm)
お問い合わせ TEL:03-3225-3424 /
メール
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半導体製造関連機器
化合物半導体関連機器
FPD製造関連機器
ナノテクノロジー関連機器
真空関連機器
光学機器
温度測定評価システム
科学機器
理化学機器
プリント基板製造関連機器