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お知らせ

2007/01/10

エレクトロテスト・ジャパン、レーザー&オプティクス出展のご案内

■エレクトロテスト・ジャパン
会場: 東京ビックサイト
期間: 1/17-1/19
出展内容
【電子機器第一事業部 [共同出展社 (株) アイビット]】ブース No: 6-3
・テンプトロニック社製サーモストリームシステム
数秒で温度を変えることができる温度試験機
・株式会社アイビット製 X線検査装置
小型で高解像度の検査装置

【電子機器第二事業部 [共同出展社 MIRTEC社]】ブース No: 1-18
・MIRTEC社製 実装基板外観検査装置-デスクトップ型
高機能で汎用性に優れた、卓上型の機種
・MIRTEC社製 実装基板外観検査装置-無振動インライン型
検査中の基板に振動を与えない装置。はんだ付け前の検査用。
・MIRTEC社製 実装基板外観検査装置-インライン型
インライン型の標準装置、大型基板用の'L'も有り

URL: http://www.electrotest.jp/

■ レーザー&オプティクス2007
会場: 東京ビックサイト ブース No: 31-29
期間: 1/17-1/19
出展内容:
・スピリコン社製 レーザビームアナイライザ、M2値測定システム 他
波長: 190nm~1000um、出力: ~8kW (CO2) のレーザビーム
プロファリングが可能。
・オーシャンオプティクス社製 超高分解能小型スペクトメータ
有効波長範囲: 200-1100nm、光学分解能: 0.3~20nm (FWHM)、
装置組み込み可能
・ニューポート社製 ビームシェイパー
UV・VIS・NIR域にそれぞれ対応した、ガウシアンビームをフラットトップ
ビームに変換する光学モジュール

URL: http://www.nepcon.jp/jp/lo/