ホーム > お知らせ > 2006年 > 4月に出展する展示会のご案内

お知らせ

2006/04/10

4月に出展する展示会のご案内

2006国際ウエルディングショー

会場: 東京ビックサイト
期間: 4/12-4/15
出展内容:
(1) Spricon社 (アメリカ) : レーザービームアナライザー
URL: http://www.weldingshow.jp/

Photomask Japan 2006

会場: パシフィコ横浜
期間: 4/18-4/20
出展内容
(1) バルカー・ハイパフォーマンス・ポリマーズ株式会社 (日本) : レチクル管理システム
・ レチクルケース
・ レチクル移載機
(2) ネックステック社 (アメリカ) : 検査装置
・レチクル異物検査装置
・ウエハソータ

URL: http://www.ics-inc.co.jp/pmj/

レーザーエキスポ 2006

会場: パシフィコ横浜
期間: 4/19-4/21
出展内容:
(1) DTI (アメリカ) : サブナノ分解能ロングトラベルステージ
(2) Newport社 (アメリカ) : 各種光学機器
(3) OceanOptics社 (アメリカ) : 超小型スペクトロメータ
(4) Spiricon社 (アメリカ) : ビームアナライザ
(5) Karl Lambercht社 (アメリカ) : 偏向プリズム
(6) 伯東株式会社 (日本) : イオンミリング装置

URL: http://www.optronics.co.jp/le/


フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展

会場: 東京ビッグサイト
期間: 4/19-4/21
出展内容: FPD製造関連機器
(1) 伯東株式会社 (日本) :
新型FPD用自動露光装置、
PDP用自動露光装置 (MATシリーズ)
(2) 東洋熱工業株式会社 (日本) : 両面同時クリーナー、
PDP用低温熱処理装置
(3) 株式会社サンシン (日本) :
超平担化研磨装置、小型平担化研磨装置
(4) 株式会社エルフォテック (日本) : サンドブラスト装置
(5) ヤチヨ・コーポレーション (日本) :
PDPガラス/ スクリーンマスク検査装置
(6) 株式会社塚谷刃物製作所 (日本) : ピナクルダイ
(7) メディエックステック株式会社 (日本) :
マイクロフォーカスX線検査装置
(8) MIRTEC Co., Ltd. (韓国) :
実装基板検査装置
(9) (株)ニッシン (日本) :
プラズマ処理装置
(10) (株)J.MACC (日本) :
FPDキズ検査装置
(11) コントロールドセミコンダクターインク (アメリカ) :
フォトマスク修正装置、ガラスレーザ切断装置 等
(12) ネックステック社 (アメリカ) : TFT/FPD検査装置
(13) エイゾレス社 (アメリカ) :
FPD用高性能ステッパー露光装置
(14) PVA テプラ社 (ドイツ) :
マイクロウェーブプラズマ式OLED表面処理装置
(15) センテック社 (ドイツ) : 膜厚測定装置
(16) SII ナノテクノロジー株式会社 (日本) :
集束イオンビーム装置 / FIB-SEM複合装置 等
(17) セラ社 (イスラエル) : SEM・TEM試料作製用装置

URL: http://web.reedexpo.co.jp/ftj/