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お知らせ

2006/01/16

エレクトロテスト・ジャパン、ファイバーオプティクスEXPO出展のご案内

エレクトロテスト・ジャパン

会場: 東京ビックサイト
期間: 1/18-1/20
出展内容:
(1) 株式会社アイビット (日本) : X線検査装置/観察装置
(2) Temptronics社 (アメリカ) : 温度環境試験装置
(3) エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 (日本) : 集束イオンビーム、走査型プローブ顕微鏡
(4) MIRTEC社: 実装基板検査装置
(5) 株式会社ニッシン (日本) 株式会社ケイテックサーチ (日本) : 基板表面改質用プラズマ処理装置

URL: http://www.electrotest.jp/